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致茂Chroma 3650 SoC 測試系統

主要特色：

• 50/100MHz測試工作頻率
• 512個 I/O 通道(I/O Channel)
• 16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
• Per-Pin 彈性資源架構
• 32 DUTS 平行測試功能
• ADC/DAC 測試功能
• 硬體規則模式產生器(Algorithmic Pattern Generator)
• BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
• 好學易用的 Windows XP 作業環境
• 每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
• 每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
• 彈性化的 MS C/C++ 程式語言
• 即時pattern編輯器，含Fail pin/address顯示
• 測試程式/測試pattern轉換軟體(J750, SC312)
• 多樣化測試分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等
• 蕞經濟實惠的VLSI和消費性混合信號晶片產品的測試方案

平行測試功能 
Chroma 3650可在一個測試頭中，提供多512 個數位通道，并具備高產能的平行測試功能， 蕞高可同時測試32 個待測晶片，以提升量產效 能。在Chroma 3650中，每片單一的LPC板擁有 64個數位通道，并結合具備高效能基礎的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4 個數 位通道的時序產生器，以提供50ps 以內的精準 度。

彈性化架構 
雖然半導體產業是一個變化快速的產業，但其 資產設備應建立在可符合長時間需求的設備之 上。Chroma3650在設計其架構時，應用* 的規劃，具備AD/DA轉換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組等等選配，以確保符合未來多年的 測試需求。

CRISP (軟體測試環境) 
架構在Windows XP作業系統上的Chroma 3650的 軟體測試環境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form)，是一個結合工程開發與量產需求 的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執行控制模 組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機 臺管理模組。透過親切的圖形人機介面的設 計，CRISP提供多樣化的開發與除錯工具，包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿足研發/測試工程師開發程式時的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復任一測試 參數，包含時序、電壓、電流等，以評估其測試 流程之穩定度。

在量產工具的部份，透過特別為操作員所設計 的OCI (Operator Control Interface)量產平臺，生 產人員可輕易地控制每個測試階段。它提供產品 導向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650、 晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設計者 可先行在Production Setup Tool視窗之下設定OCI 的各項參數，以符合生產環境的需求。而操 作員所需進行的工作，只是選擇 程式設計者已規劃好的流 程，即可開始量產，大幅 降低生產線上的學習的時 間。

蕞低價位的測試解決方案 
要配合現今功能日趨復雜的IC晶片，需要具備功 能*而且多樣化的測試系統。為了達成具成本 效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時間和 整體成本來達成，而非只是簡單地減少測試系統 的價格而已。Chroma 3650的設計即是可適用于 所有類型的應用環境，例如 : 工程驗證、晶圓測 試和成品測試。周邊設備。 Chroma 3650支援多種裝置的驅動程式介面 (TTL& GPIB ) ，可進行與晶圓針測機和送料機， 包括 SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。

應用支援 
不管是新客戶或是現有客戶，Chroma 均提供廣 泛的應用支援，以確保所有的設計皆能精準地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產 量、把握新興市場的機會、提高生產力、以創新 策略降低測試成本、或在尖峰負載情況下增加容 量，Chroma 位于的客服支援人員皆會竭盡 所能提供客戶即時解有效率的解決方案。

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致茂Chroma 3650 SoC 測試系統